一、設(shè)備名稱：高阻測定儀 型號：GZ-I
二、設(shè)備用途： 該設(shè)備是根據(jù)吉林大學(xué)PTC研究項目的需要而開發(fā)的用計算機控制PTC材料R-T曲線性能的儀器。 本設(shè)備是國內(nèi)首先制造的在高溫和線性升溫條件下測試材料的高阻性能的智能化儀器。 吉林大學(xué)化學(xué)學(xué)院、吉林大學(xué)材料學(xué)院、華東理工大學(xué)材料學(xué)院等高校均使用本試驗設(shè)備。
三、主要技術(shù)參數(shù) 1.可對Ф40mm以上或10×10×10mm3PTC樣品進行R-T特性試驗儀器電阻測量范圍：0.01Ω-1015Ω±3% 2.溫度控制范圍：室溫-300℃ 3.分辨率：0.1℃ 4.控溫方式：恒溫±0.5℃ 5.勻速升溫速率：0.5-5℃/分 6.勻速升溫精度：±1℃ 7.計算機自動PTD調(diào)節(jié)，曲線CRT顯示，數(shù)據(jù)存儲、打印。
